XRF

L’acronimo XRF identifica la Spettroscopia in Fluorescenza a Raggi X, dall’inglese X-Ray Fluorescence Spectoscopy. Questa tecnica analitica ha la caratteristica molto interessante di non essere distruttiva e quindi in grado di fornire informazioni su un materiale senza rovinarlo o distruggerlo. Questo rende la tecnica molto diffusa in moltissimi contesti industriali dove un’analisi non distruttiva è essenziale per conoscere il contenuto di metalli senza modificare il materiale.

L’analisi prevede che la radiazione emessa dalla fonte a Fluorescenza venga dispersa tramite un cristallo in modo che le diverse lunghezze d’onda possano essere rilevate in funzione dell’angolo di dispersione che si viene a creare nell’interazione con il materiale. Quindi la presenza di determinati atomi produce una dispersione della luce caratteristica che viene rilevata e permette di determinare l’elemento di interesse.

La tecnica è largamente utilizzata sia in chimica analitica che in geologia, biologia, metallurgia e molti altri settori.

FKV propone una completa strumentazione per la fase preparativa dell’analisi XRF. È molto importante infatti che un campione venga correttamente preparato per poter garantire l’affidabilità del dato e grazie ai sistemi preparativi di Herzog è possibile produrre tutte le tipologie di campione che possono essere necessarie.