{"id":5027,"date":"2023-03-13T08:21:08","date_gmt":"2023-03-13T08:21:08","guid":{"rendered":"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/?p=5027"},"modified":"2023-08-01T16:28:15","modified_gmt":"2023-08-01T16:28:15","slug":"spessore-film-rivestimento-vetri-con-uv-vis","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/2023\/03\/13\/spessore-film-rivestimento-vetri-con-uv-vis\/","title":{"rendered":"Come determinare lo spessore del film di rivestimento di vetri"},"content":{"rendered":"\n<p>I <strong>film di rivestimento di vetro<\/strong> vengono utilizzati in moltissimi campi applicativi e con diverse finalit\u00e0. Controllare lo spessore del rivestimento \u00e8 molto importante per garantire determinate caratteristiche prestazionali dei diversi contesti.<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"alignright size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Specord_210_PLUS_alpha-edited.jpg\" alt=\"spettrofotometro uv-vis\" class=\"wp-image-4174\" width=\"355\" height=\"200\" srcset=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Specord_210_PLUS_alpha-edited.jpg 660w, https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2022\/07\/Specord_210_PLUS_alpha-edited-300x169.jpg 300w\" sizes=\"(max-width: 355px) 100vw, 355px\" \/><figcaption>Spettrofotometro UV-Vis<\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>Lo <a href=\"https:\/\/fkv.it\/prodotti\/analisi-chimiche\/analisi-uv-vis\">spettrofotometro UV-Vis Specord Plus<\/a> pu\u00f2 essere utilizzato per questo tipo di applicazione utilizzando l\u2019<strong>accessorio per la determinazione della riflettanza ad angolo variabile<\/strong> (<em>Figura 1<\/em>).<\/p>\n\n\n\n<p>Con questa configurazione infatti \u00e8 possibile determinare sia lo <strong>spessore<\/strong> che l\u2019<strong>indice di rifrazione<\/strong> dei campioni solidi misurando la riflettanza a diversi angoli di riflessione su un intervallo di lunghezze d\u2019onda ben definito.<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_Fig1.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-5037\" width=\"293\" height=\"235\" srcset=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_Fig1.jpg 435w, https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_Fig1-300x241.jpg 300w\" sizes=\"(max-width: 293px) 100vw, 293px\" \/><figcaption><br><em>Figura 1 &#8211; Accessorio per l\u2019analisi in riflettanza con ampio vano di appoggio campione<\/em><\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>Gli spettri ottenuti con la luce riflessa sono correlati allo spessore dello strato geometrico della pellicola e all\u2019indice di rifrazione. Lo spessore dello strato ottico viene calcolato tramite questi due fattori.<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-4.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-5034\" width=\"644\" height=\"138\" srcset=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-4.png 926w, https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-4-300x64.png 300w, https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-4-768x165.png 768w\" sizes=\"(max-width: 644px) 100vw, 644px\" \/><figcaption><em>Figura 2 &#8211; Grafico rappresentante la teoria per la determinazione dello spessore<\/em><\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>\u00c8 possibile ottenere una maggiore precisione conoscendo la relazione di Cauchy per un dato materiale:<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-5.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-5035\" width=\"139\" height=\"47\"\/><\/figure>\n\n\n\n<p>Alcuni coefficienti della relazione di Cauchy sono forniti dal programma.<\/p>\n\n\n\n<h2><strong><strong><strong><strong>Sistema per analisi in riflettanza ad angolo variabile<\/strong><\/strong><\/strong><\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p>L\u2019accessorio utilizzato in queste misure viene alloggiato nel compartimento dello spettrofotometro <a href=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/glossario\/uv-visibile\/\">UV-Vis<\/a> ed \u00e8 dotato di angolo variabile con un angolo di 30\u00b0. Le impostazioni del metodo vengono riportate in <em>Tabella 1<\/em>:<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-6.png\" alt=\"\" class=\"wp-image-5036\" width=\"707\" height=\"191\" srcset=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-6.png 914w, https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-6-300x81.png 300w, https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/image-6-768x208.png 768w\" sizes=\"(max-width: 707px) 100vw, 707px\" \/><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p>Per la determinazione del riferimento analitico viene utilizzato uno specchio fornito con l\u2019accessorio.<\/p>\n\n\n\n<p>Gli spettri di riflettanza dei campioni di vetro analizzati sono riportato in <em>Figura 3<\/em>:<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large\"><img loading=\"lazy\" width=\"658\" height=\"211\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_FIG3.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-5038\" srcset=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_FIG3.jpg 658w, https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_FIG3-300x96.jpg 300w\" sizes=\"(max-width: 658px) 100vw, 658px\" \/><figcaption><em>Figura 3<\/em><\/figcaption><\/figure>\n\n\n\n<p>L&#8217;analisi degli spettri di riflessione dei campioni di vetro ha portato a valori di spessore di 0,300 &#8211; 0,350 \u00b5m.<\/p>\n\n\n\n<div class=\"wp-block-image\"><figure class=\"aligncenter size-large\"><img loading=\"lazy\" width=\"251\" height=\"141\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_Fig4.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-5039\"\/><figcaption><em>Figura 4 Specchio di riferimento e vano campione con clip di fissaggio<\/em><\/figcaption><\/figure><\/div>\n\n\n\n<p><a href=\"https:\/\/fkv.it\/prodotti\/analisi-chimiche\/analisi-uv-vis\">Specord Plus<\/a>, dotato dell\u2019accessorio per la riflettanza ad angolo variabile, \u00e8 estremamente affidabile nelle indagini sulle superfici. Grazie all&#8217;ottima risoluzione di Specord \u00e8 possibile analizzare anche piccole interferenze nello spettro. Si pu\u00f2 vedere chiaramente che i vetri rivestiti hanno un valore consistente di 0,335 \u00b5m per uno spessore compreso tra 0,300 e 0,350 \u00b5m.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large is-resized\"><img loading=\"lazy\" src=\"https:\/\/fkv.it\/strumentazionedalaboratorio\/wp-content\/uploads\/2023\/03\/NL03_Fig5.jpg\" alt=\"\" class=\"wp-image-5040\" width=\"380\" height=\"328\"\/><figcaption><em>Figura 5  &#8211; Percorso ottico nell&#8217;attacco per riflettanza (vista frontale)<\/em><\/figcaption><\/figure>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>I film di rivestimento di vetro vengono utilizzati in moltissimi campi applicativi. 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